安捷倫（Agilent）日前推出EEsof EDA E4727A先進低噪聲分析儀。這套結合硬件和軟件的下一代噪聲分析系統，可測量并分析閃爍噪聲（Flicker Noise）和隨機電報噪聲（RTN）。

閃爍噪聲長期以來被認為是重要的電子組件特性。它對于主動混頻器、壓控振蕩器、分頻器、運算放大器和比較器的性能有顯著影響，而這些組件正是射頻（RF）、模擬/混合（Analog/Mixed）信號，及高速有線通信應用的基礎建構要件。閃爍噪聲和RTN也是半導體材料與制程的敏感指標。隨著半導體技術的不斷推陳出新，業界更迫切需要對低頻噪聲進行測量。

安捷倫新的先進低噪聲分析儀是為了應對新挑戰而設計，其獨特的模組化設計有助于降低系統噪聲，并在超低頻率下提供各項測量功能，提供市場理想的高電壓/高電流處理能力。

安捷倫EEsof EDA器件建模產品經理Brian Chen介紹說，“安捷倫將創新測量算法納入E4727A分析儀中，提供業界更快的測量速度，并且大幅提高客戶投資報酬率。”