移動(dòng)終端技術(shù)近幾年發(fā)展迅速，而且這種發(fā)展勢(shì)頭還在延續(xù)。作為移動(dòng)終端設(shè)備的代表產(chǎn)品，智能手機(jī)也隨著LTE技術(shù)的普及以及NFC技術(shù)的興起得到了突飛猛進(jìn)的發(fā)展。智能手機(jī)功能不斷升級(jí)，其應(yīng)用已不再局限于通信聯(lián)絡(luò)及業(yè)余休閑娛樂(lè)，還覆蓋到更多與工作、出行、消費(fèi)、醫(yī)療等息息相關(guān)的各個(gè)方面，令消費(fèi)者能夠隨時(shí)隨地與他們所需的一切保持連線。

在消費(fèi)者享受越來(lái)越便捷、越來(lái)越豐富的手機(jī)應(yīng)用的同時(shí)，手機(jī)生產(chǎn)廠家卻面臨著激烈競(jìng)爭(zhēng)。除了關(guān)注終端性能提升之外，移動(dòng)終端企業(yè)正繼續(xù)強(qiáng)化“多模”概念（即TD-LTE、FDD-LTE、GSM、TD-SCDMA 、WCDMA等多種制式），而消費(fèi)者卻總是希望能購(gòu)買到更便宜實(shí)惠的移動(dòng)終端。面對(duì)越來(lái)越多的通信制式和頻段與越來(lái)越低的銷售價(jià)格之間的矛盾，移動(dòng)終端設(shè)備企業(yè)只能尋找最佳解決之道。事實(shí)表明，只有技術(shù)與產(chǎn)能并進(jìn)，方能在競(jìng)爭(zhēng)激烈的移動(dòng)終端市場(chǎng)獲一席之地。

有鑒于此，作為移動(dòng)通信測(cè)試測(cè)量的領(lǐng)頭羊，羅德與施瓦茨（R&S）公司先后提出了一系列提高生產(chǎn)測(cè)試效率的理念：并行測(cè)試，快速校準(zhǔn)，非信令測(cè)試?yán)砟?，快速終測(cè)，由于后三種技術(shù)除了需要綜測(cè)儀支持外，還需要在芯片端做改動(dòng)，因此沒(méi)有芯片的支持就無(wú)法應(yīng)用到生產(chǎn)測(cè)試中，R&S通過(guò)芯片和終端廠商的密切合作，推廣并最終使這些技術(shù)應(yīng)用到了生產(chǎn)測(cè)試中。下面針對(duì)這些技術(shù)逐一介紹。

并行測(cè)試技術(shù)

該技術(shù)為了在信令模式下進(jìn)行最終測(cè)試時(shí)提高移動(dòng)終端發(fā)射機(jī)測(cè)試速度而提出的。該技術(shù)率先在R&S的CMU200上得以實(shí)現(xiàn)，可以在信令模式下，一次測(cè)試出移動(dòng)終端的功率、調(diào)制質(zhì)量和頻譜雜散等所有發(fā)射機(jī)指標(biāo)，從而提高了信令終測(cè)下的測(cè)試速度。

快速校準(zhǔn)技術(shù)

在生產(chǎn)測(cè)試中校準(zhǔn)移動(dòng)終端的收發(fā)信機(jī)時(shí)，需要改變不同頻率和功率對(duì)移動(dòng)終端進(jìn)行測(cè)試，每個(gè)終端需要幾十次這樣的頻率或功率改變，每次需耗時(shí)幾百毫秒，所以終端耗費(fèi)在改變頻率/功率上的時(shí)間是非?？捎^的。因此R&S與芯片廠商合作，首次在測(cè)試儀器里實(shí)現(xiàn)了被稱為Smart Alignment的快速校準(zhǔn)技術(shù)，該技術(shù)核心思想是：終端按照事先預(yù)設(shè)的功率和頻率表發(fā)射或者接收信號(hào)，綜測(cè)儀用同樣的預(yù)設(shè)表進(jìn)行測(cè)試，從而節(jié)省終端改變功率和頻率所耗費(fèi)的大量時(shí)間。為了推廣該技術(shù)，R&S并沒(méi)有為Smart Alignment申請(qǐng)專利，因此其它測(cè)試儀器廠商也逐漸實(shí)現(xiàn)了類似的快速校準(zhǔn)方法。目前，快速校準(zhǔn)已經(jīng)得到了全面的普及。

非信令測(cè)試的“三站式”理念

傳統(tǒng)的手機(jī)測(cè)試分射頻校準(zhǔn)（RF Calibration）和最終測(cè)試（Final Test）兩站，前者在非信令模式下校準(zhǔn)手機(jī)的收發(fā)信機(jī)，后者在信令模式下測(cè)試手機(jī)的在不同頻率和功率下的射頻指標(biāo)。但是，在信令模式下測(cè)試射頻指標(biāo)時(shí)，不少時(shí)間被信令流程耗費(fèi)，因此R&S率先提出了非信令測(cè)試?yán)砟睿摾砟畎褌鹘y(tǒng)的兩站式改為三站式：射頻校準(zhǔn)、射頻驗(yàn)證（RF Verification）和最終測(cè)試。新增加的射頻驗(yàn)證站是基于非信令模式，并承擔(dān)原來(lái)放在最終測(cè)試站的射頻指標(biāo)測(cè)試。由于射頻指標(biāo)測(cè)試改在非信令模式完成，因此節(jié)省了信令開銷，提高測(cè)試速度。

需要注意的是，雖然從功能上分為三站，但在產(chǎn)線實(shí)際應(yīng)用時(shí)，射頻校準(zhǔn)和射頻驗(yàn)證可以并成一站，因?yàn)檫@兩站都是基于手機(jī)電路板連接射頻頭進(jìn)行測(cè)試。之后電路板被裝配成整機(jī)，再進(jìn)行最終測(cè)試。最終測(cè)試往往是在信令模式下用天線耦合測(cè)試，以模擬真實(shí)網(wǎng)絡(luò)的情況，重點(diǎn)驗(yàn)證信令過(guò)程和確保裝配成整機(jī)時(shí)耳麥和天線安裝正常。

快速終測(cè)

非信令理念節(jié)省了在信令下被信令流程耗費(fèi)的時(shí)間，但是這不夠，因?yàn)椋诜切帕钅Ｊ较聦?duì)不同頻率和功率進(jìn)行射頻指標(biāo)測(cè)試仍然需要進(jìn)行幾十次頻率/功率改變，每次仍然需耗時(shí)幾百毫秒。既然R&S Smart Alignment快速校準(zhǔn)可以通過(guò)預(yù)設(shè)頻率/功率表的方法節(jié)省頻率/功率改變的時(shí)間，為什么不把該方法用在非信令驗(yàn)證呢？所以，經(jīng)過(guò)跟芯片廠商的密切合作，R&S在CMW500上實(shí)現(xiàn)了業(yè)界首創(chuàng)的基于非信令模式的快速終測(cè)技術(shù)（R&S稱為 Multi-Evaluation List Mode，簡(jiǎn)稱MELM），該技術(shù)正是把R&S Smart Alignment快速校準(zhǔn)的思路應(yīng)用到非信令射頻驗(yàn)證中，從而大大加快測(cè)試速度。目前，已有不少芯片和測(cè)試儀器廠商支持該技術(shù)，并已經(jīng)逐步被應(yīng)用到生產(chǎn)測(cè)試中。

非信令測(cè)試的“三站式”理念的幾個(gè)關(guān)鍵要素

一、芯片支持很重要。當(dāng)移動(dòng)終端測(cè)試從信令模式往非信令模式轉(zhuǎn)變時(shí)，芯片廠商對(duì)儀器的配合和支持就變得極為重要。比如接收機(jī)測(cè)試，在傳統(tǒng)的信令模式下，綜測(cè)儀模擬基站與被測(cè)移動(dòng)終端建立呼叫后進(jìn)行BER測(cè)試，整個(gè)過(guò)程基于信令，所有芯片都能支持。而在非信令模式下則儀器只是播放預(yù)先生成的波形文件。由于各家儀器廠商的波形不通用，如果芯片廠商不支持，則芯片無(wú)法同步和解碼綜測(cè)儀生成的波形，接收機(jī)測(cè)試根本無(wú)從談起。

二、兩種BER測(cè)試方法。在非信令模式下測(cè)試BER時(shí)，有Loopback BER和新的Single-Ended BER兩種測(cè)試方法，前者是讓終端把收到的數(shù)據(jù)環(huán)回給綜測(cè)儀來(lái)進(jìn)行BER測(cè)試，后者是直接讓終端進(jìn)行BER測(cè)試。不同的芯片廠商支持不同的BER測(cè)試方法，因此兩種方法綜測(cè)儀都需要支持。

三、快速終測(cè)技術(shù)的調(diào)試比以往困難。以往調(diào)試時(shí)可以用斷點(diǎn)運(yùn)行來(lái)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題。但是在快速終測(cè)技術(shù)下，由于綜測(cè)儀用預(yù)設(shè)的頻率/功率表一次測(cè)試幾十個(gè)頻點(diǎn)/功率的射頻指標(biāo)，當(dāng)中無(wú)法中斷，這將給調(diào)試帶來(lái)很大的挑戰(zhàn)。這時(shí)，綜測(cè)儀的成熟穩(wěn)定性變得很重要。

四、快速終測(cè)技術(shù)是非信令測(cè)試?yán)砟畹暮诵?/strong>。前面提到，非信令測(cè)試?yán)砟罟?jié)省了一些信令開銷，但是只有結(jié)合快速終測(cè)技術(shù)，速度才能達(dá)到質(zhì)的飛躍。雖然非信令測(cè)試的推廣降低了綜測(cè)儀廠商的準(zhǔn)入門檻，但是需要注意的是，快速終測(cè)才是非信令的核心，快速終測(cè)技術(shù)對(duì)綜測(cè)儀的要求更高，并且在快速終測(cè)技術(shù)下調(diào)試比以往困難，所以要選用一款能穩(wěn)定支持快速終測(cè)技術(shù)的綜測(cè)儀。