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RF功率晶體管耐用性驗(yàn)證方案
晶體管耐用性測試通常涉及在測試過程中可能變也可能不變的三個(gè)電氣參數(shù):輸入功率,施加到待測晶體管的直流偏置以及提供給待測器件的負(fù)載阻抗。本文介紹一些最新的耐用型...
發(fā)布時(shí)間:2013-01-30關(guān)鍵詞:RF功率晶體管 -
高功率單管放大器設(shè)計(jì)
本文以高功率晶體管MRF154放大器設(shè)計(jì)為例,對匹配電路中片狀電容器進(jìn)行分析,給出了電容器的等效電路及放大器的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
發(fā)布時(shí)間:2013-01-14關(guān)鍵詞:高功率單管放大器 -
DAC和ADC為無線射頻通信加速
發(fā)布時(shí)間:2012-12-04關(guān)鍵詞:無線射頻通信