在信息化的現在社會中，智能手機等移動設備通過LTE、Wi-Fi、GPS等，向高頻化發展，而且該帶寬達到了數GHz。隨之，移動設備中所使用的高頻感應器和鐵氧體磁珠等電子元件也向高頻化發展。這些電子元件從按照數百MHz到1GHz的高頻來進行出廠檢查，所以對于高頻測量儀器的需求也日益增加。

HIOKI（日置）近日宣布，將發售阻抗分析儀IM7583和IM7585。這次將發售的2種機型，可以測量超過去年發售的IM7580（最高300MHz的高頻測量）進行更高的頻率測量。IM7583的測量頻率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz，可以滿足高頻化的各種電子元件產品。

而且，IM7583、IM7585兩種機型通過最短0.5ms（0.0005秒）的高速測量，能夠快速的檢查大量電子元件，從而提高電子元件廠商的生產效率。

主要用途

· 電子元件廠商的電子元件的出貨檢查
· 電子儀器廠家的電子元件的入庫檢查和特性評估

產品特點

1、IM7583最高600MHz、IM7585最高1.3GHz的高頻測量

IM7583的測量頻率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz。這大大的高于去年發售的IM7580的測量頻率（1MHz~300MHz）。

單一頻率測量的LCR測試儀的模式的話，可用于判斷出貨檢查的合格與否，頻率變化同時進行測量的阻抗分析儀的模式的話 ，產品開發的特性評估和其他領域中。

2、最快0.5ms的高速測量和高穩定性的測量，有助于提高生產效率

最快0.5ms（0.0005秒）的高速測量。這樣，對于需要快速檢查大量電子元件的電子元件廠商來說可以大幅提高生產效率。

而且，IM7585的反復測量精度是0.07%（1GHz時的代表值），因此實現了穩定測量，提高生產的成品率，從而提高生產效率。

3、主機尺寸小巧化，有助于降低生產成本

在電子元件廠商的生產線中，各種設備安裝在機架中組成檢查系統，并進行自動檢查。因此，和去年發售的IM7580相同通過將將主機大小小型化，縮小檢查系統的體積，并通過多臺組合能夠縮短檢查時間，并降低生產成本。

4、各種各樣的判斷功能，判斷合格與否

單一的頻率測量的LCR測試儀的模式的話，具備判斷電子元件的合格與否的比較器功能以及將電子元件排序的BIN功能。比較其功能克設置上下限值，并以此為判斷標準來判斷是否合格。相對于比較器功能的按照判斷標準判斷是否合格，BIN功能則能設置最多10種判斷標準，并進行排名。

在多種頻率下測量的分析儀的模式的話，包括從電子元件的頻率特性中可判斷合格與否的區間判斷、峰值判斷。區間判斷是為了確認測量值是否進入任意設置的判斷區域內的功能。峰值判斷是判斷共振點的功能。

另外，還全新搭載了任意設置多種頻率，并按照這個設置值判斷合格與否的目標判斷功能。

基本參數

· 基本精度Z：0.65%rdg.θ：0.38（代表值）
· 測量時間 最短0.5ms（模擬測量時間）
· 測量范圍100mΩ～5kΩ
· 測量頻率IM7583：1MHz～600MHz　　IM7585：1MHz～1.3GHz
· 測量信號電平-40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）