支持4×4 MIMO和8X2 MIMO信道衰落測試

安立公司將信道衰落模擬功能集成到業(yè)界領先的4G LTE-Advanced信令測試儀MD8430A中。新的數字基帶衰落選件，將MD8430A信令測試儀變成支持行業(yè)標準3GPP定義的衰落曲線的全功能信道衰落模擬器。

MD8430A信道衰落選件可與MD8430A相結合，減少投資額外硬件來實現真實射頻（RF）條件下執(zhí)行信號測試的需求。這是第一個LTE-Advanced使用內置衰落模擬器支持4×4 MIMO下行鏈路配置的信令解決方案。

MD8430A為LTE和LTE-Advanced的開發(fā)工程師們所信賴，被認為是用于模擬實驗室LTE網絡的領先的信令測試儀。隨著這次發(fā)布，多功能的MD8430A硬件平臺不斷發(fā)展，為安立公司的客戶提供更好的投資回報。

通過建筑物和樹木一樣的高大的結構，反射和散射無線電波傳送，這意味著接收器實際接收到來自“多路徑”具備不同強度、時間和方向到達的多個原始信號。LTE-Advanced的一個主要特點是多輸入多輸出（MIMO）天線系統(tǒng)，該系統(tǒng)通過運用多路徑傳輸提高設備性能。為了更加仔細有效地測試此類MIMO設備，多路徑衰落效應必須以可重復的方式準確地施加到每一個天線。

采用內部數字基帶處理，MD8430A在測試執(zhí)行過程中應用多路徑效應，快速測試設計（RTD）軟件為測試人員提供用于創(chuàng)建和運行衰落模擬測試的集成環(huán)境。支持LTE-Advanced功能，如載波聚合和MIMO，使MD8430A成為幫助領先的芯片設計人員構建下一代高性能移動設備的理想解決方案。除了通過RF連接測試設備，帶衰減選件的MD8430A也支持慢時鐘數字接口，在昂貴的ASIC生產之前，先在仿真環(huán)境中驗證設計。