半導體測試設備領導者愛德萬測試推出T2000平臺最新多功能參數測量儀(PMU) 模塊T2000 PMU32E，進一步提升數字、模擬與電源管理系統單芯片(SoC) 組件的測試效能。全新模塊PMU32E具備高密度32信道，可與愛德萬測試原有PMU32模塊完全兼容(即使兩模塊使用相同測試機臺接口單元(tester interface unit；TIU))，且能提供高于現有模塊兩倍之分辨率與精準度。T2000測試系統結合全新PMU32E模塊，將能在測量精準度、安裝時間與鏈接功能方面達到極高水平，媲美T2000 EPP系統效能。

愛德萬測試SoC測試事業執行董事兼執行副總裁岡安俊幸表示：“我們在這款全新參數測量儀模塊上提供了更高效能，讓客戶能以較低投資成本獲得EPP測試系統功能。”

T2000 PMU32E不僅測量時間較現有模塊快上一倍以上，尤其在直流電線性測量時間方面，更因為取樣率與數據傳輸速度的提升而大幅縮短。測量速度的加快，使得測試產能能夠明顯提高，整體測試成本也隨之降低。

此套新模塊另一個進一步改善操作效率的優勢，在于能夠執行針對現有PMU32模塊所開發的測試程序；除此之外，PMU32E提供了兩倍之多的內存容量，讓不受信道之限的任意波形發生器(AWG) 與數字器增添更多功能。

PMU32E還支持芯片內建穩壓器(on-die regulator；ODR) 連同其ISVM (電流源暨電壓測量) 鏈接功能的加載測試。

愛德萬測試全新PMU32E模塊預計于2015年第一季開始出貨。