愛德萬測試(ADVANTEST，TSE: 6857, NYSE: ATE)日前宣布，成功開發(fā)太赫茲(Terahertz)光譜及成像分析平臺，成為已有的太赫茲波非侵入性分析設備系列中最新成員。通過把太赫茲光源和檢測器分離成獨立模組并以光纖與主機聯(lián)接，新產(chǎn)品使得被測區(qū)域可以任意靈活布置，大大擴展了應用范圍。該產(chǎn)品計劃于2013年10月出貨。

新平臺擴展了太赫茲研究的前沿應用

太赫茲技術是在測量和分析方面的前沿技術，在各種應用領域都吸引到關注和投資。因為物質(zhì)對太赫茲波段不同頻率呈現(xiàn)不同的反射或吸收特性，非常適用于光譜分析和非侵入性成像應用。愛德萬測試公司于2010年4月首次推出其太赫茲分析系統(tǒng)--TAS7000三維(3D)成像分析系統(tǒng)，目前在太赫茲應用上業(yè)界已有針對不同市場的非侵入性分析系統(tǒng)，如藥物分析產(chǎn)品。

同時，最新的研究結合太赫茲分析技術和其他實驗設備如液氦低溫保持器(Cryostat)及加熱器，用于開發(fā)新材料和物理分析。實驗室要求測量設備高精度同時易于使用，愛德萬測試公司的新太赫茲光譜及成像分析平臺滿足了這些要求，幫助研發(fā)人員達到高精度、高效率。

最新測試平臺包括1組太赫茲光抽樣系統(tǒng)，3個太赫茲光源模組、以及1個檢測器模組。