美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱NI）近日發布了NI NI PXIe-5632 VNA，它經進一步優化，可幫助工程師滿足日益復雜的射頻測試要求，而其成本、尺寸和使用所需時間僅是傳統堆疊式解決方案的極小一部分。 新的PXIe VNA基于創新型的雙源架構，頻率范圍為300 kHz至8.5 GHz，擁有獨立調整的源代碼和源接入循環，可適用于眾多不同的測量應用。

“NI在射頻和微波儀器上持續大力投入，將PXI的應用領域擴大至高端應用。”NI射頻研究和開發副總裁Jin Bains表示， “NI PXIe-5632矢量網絡分析儀功能豐富，可顯著降低網絡測量成本，尤其是針對那些需要高度精確、快速和小封裝測量的大批量自動化測試的應用。”

產品特征
• 雙端口，3槽PXI Express矢量網絡分析儀，頻率范圍為300 kHz至8.5 GHz 。
• 功率范圍較寬，為-30dBm到+15 dBm，調節步長為0.01dB，用于測量有源設備的壓縮和S-參數。
• 帶有源接入循環的雙源架構，可實現脈沖S參數測量和擴展源功率范圍。
• 頻偏功能使用獨立調整的源代碼，實現對頻率轉換器件和熱S-參數的測量。
• 通過NI LabVIEW、ANSI C和.NET等行業領先的編程接口，可簡化編程并加快測試開發速度，同時保證射頻測量質量。

關于NI
從1976年開始，美國國家儀器就為工程師和科學家提供各種工具來加速生產、創新和探索。NI的圖形化系統設計方法為工程界提供了一個將軟硬件結合在一起的平臺,有助于加速測量和控制系統的開發過程。公司的長期愿景和通過技術提高社會發展水平的理念為客戶、員工、供應商和股東的成功提供支持。