據外媒報道，LitePoint公司近日發布 IQxstream  稀動測試系統，除了具備兼容于 2G / 3G / 4G 的性能外，還可同時支持 FDD 與 TDD ，并提供4個 DUT 同時測試的能力，以因應未來的測試需求。

    看好 LTE 技術在 4G 標準中的主流地位，除了北歐TeliaSonera、北美Verizon Wireless、MetroPCS及日本NTT DoCoMo等電信業者開始推出 LTE 服務外，在產業鏈上游的通訊晶片與通訊模組廠商亦針對 LTE 產品做出完整規劃。不過，面對與現有2G/3G在規格上的差異，于產品研發階段時的測試成本、測試時間及品質要求等要素儼然變成關鍵所在。

    LitePoint公司開發的 IQxstream 稀動測試系統可望協助解決這些挑戰。 IQxstream 具備Simple、Proven、Fastest及Safe Investment等4大特色。 IQxstream 內建多種主流的量測方式，并支持 LTE FDD / TDD、 GSM / EDGE、 W-CDMA 、 CDMA 2000 、 TD-SCDMA 等多種標準，并由于指令的精簡化，使得測試軟體撰寫容易，以及確保測試解決方案的支持性。

　　Iqxstream把關測試品質

    IQxstream 一次可支持4個 DUT (Multi-DUT)測試，因而大幅縮短測試時間，并采用 UMT (Utilization Maximizing Technology)設計做為高速傳遞架構。 IQxstream 并以足夠的預備頻寬，保有下一代 LTE 技術標準的升級彈性，且在臺北、上海、東京、深圳、芝加哥及歐洲等地，均設有區域性的技術部門，更有效率地提供完善的測試技術支持。

    此外， IQxstream 具備多項符合 LTE 測試的優勢。首先是IQxstream 的 RF 頻率范圍為400~3000MHz，符合 698MHz~2.62GHz 的格要求。再者，測試設備至少具備20MHz的 VSA / VSG 頻寬，并支持6通道設計。若要保有未來擴充性以進一步支持 LTE-Advanced ，頻寬則須提高到100MHz。對于研發與制造單位的測試需求而言，內建精準的 MIMO 功能也不可或缺，且提供額外的 VSA / VSG連接埠，以供上、下行 MIMO 訊號傳遞的特殊應用。此外，并針對上、下行支持不同的傳送組合，以及 FDD 與 TDD 兩種傳送模式。 FDD 與 TDD加起來的頻帶數需達到40個，FDD從1到17，頻率小于2.7GHz;TDD頻帶則是33到40，頻率需低于2.62GHz。

　　Non Signaling測試設計

    事實上， IQxstream 所擁有的諸多特色，都是基于非信令(Non Signaling)模式而來。與Signaling模式相較，Non Signaling少了協議堆疊，不用再經過RF Channel，直接通過USB介面與控制端連結。因此，除了可有效地掌握測試錯誤外，還一并享有更高速的裝置控制(USB 2.0,480Mbps vs RF,64Kbps) ，并能快速地配置裝置與測試，降低變更裝置組態所需的時間。

    在Non Signaling的幫助下，不僅 DUT 測試時間比傳統的Signaling模式減少一半，達到測試成本最佳化的目的。接著再搭配 Sequence Based Test 與 Multi- DUT ，則可分別縮短約25%與8.3%的測試時間。而對于Non Signaling模式在測量方式的匹配性上， LitePoint 開發出的測試平臺能夠完全等同于Signaling模式的量測。不僅如此，Non Signaling模式也具備足夠的測試速度提升效果，當 IQxstream 加上 Sequence 與 Multi-DUT 后可提升速度達到3倍，連帶測試軟體也不會因為Non Signaling而變得復雜，比Signaling更為簡單且迅速。

    LitePoint期望藉由無線通訊測試設備的創新，提供最佳的測試方案，增進測試良率與效率，進而降低測試成本，以獲得更高的產品利潤。同時，協助工程師縮短通訊晶片產品的開發時程，更快地為消費者帶來高品質的稀動裝置。