——每個引腳數字參數測量和高密度的源測量單元模塊都是半導體研究、測試的理想選擇

2011年8月——美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）擴展其PXI平臺的功能，通過新發布的每個引腳參數測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊（SMU）用于半導體的特性描述和生產測試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數字I / O具備PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設備成本，縮短測試時間，并提升各種測試設備的混合信號靈活性。

使用NI PXIe-6556高速數字I / O模塊，工程師可以產生和獲得一個高達200 MHz的數字波形或在同一針腳上，以 1% 誤差率執行 DC 參數測量，從而簡化布線，減少測試時間和提高直流參數測試儀的測量密度。此外，其內置的時序校準功能可自動調整時序，幫助工程師們消除不同連線與線路長度所造成的時序偏移，。NI PXIe-6556可選擇是否以其他精度更高的NI SMU切換，工程師可基于硬件或軟件觸發器，進而觸發參數測量。

NI PXIe-4140/41 SMU模塊可用于PXI Express插槽，提供多達4個SMU的通道，而4U的單一PXI機箱可提供多達68個SMU的通道,以輕松應對高針數設備的測試。高達每秒600,000樣本的采樣率，工程師們可以大大減少測量時間，或獲取設備重要的瞬態特性。此外，NI PXIe-4141具備新一代的SourceAdapt技術，工程師們可根據任何給定的負載自定義調整SMU輸出，以實現最大的穩定性和最小的瞬態倍。傳統SMU技術無法提供此功能。

結合使用NI LabVIEW系統設計軟件，這些新PPMU和SMU模塊為半導體測試提供了模塊化的軟件定義測量方式，從而提高質量，降低成本并減少整個測試驗證，特性研究和生產的時間。 LabVIEW具有靈活性編程語言與先進的工程工具的力量，使工程師能夠滿足特定、定制化的要求。

關于NI
30多年來，美國國家儀器公司(NI)幫助測試、控制、設計領域的工程師與科學家解決了從設計、原型到發布過程中所遇到的種種挑戰。通過現成可用的軟件，如LabVIEW, 以及高性價比的模塊化硬件，NI幫助各領域的工程師不斷創新，在縮短產品問世時間的同時有效降低開發成本。如今，NI為遍布全球各地的30,000家不同的客戶提供多種應用選擇。NI總部設于美國德克薩斯州的奧斯汀市，在40個國家中設有分支機構，共擁有5,500多名員工。在過去連續十二年里，《財富》雜志評選NI為全美最適合工作的100家公司之一。作為最大的海外分支機構之一，NI中國擁有完善的產品銷售、技術支持、售后服務和強大的研發團隊. 敬請訪問ni.com/china，或致電800-820-3622，了解更多NI專業產品及服務信息。