NI近日推出了NI PXIe-5630 6 GHz雙端口矢量網絡分析儀（VNA），這是自動化測試行業首臺基于PXI總線的矢量網絡分析儀。借助全新的矢量網絡分析儀，可對前向參數和反向參數(T/R)進行全面的矢量分析。此外，該矢量網絡分析儀還提供精密自動校準功能，并且基于靈活的軟件定義架構，非常適用于自動化設計驗證和生產測試。該矢量網絡分析儀基于PXI模塊化架構，只需占據兩個PXI槽位，使測試工程師可以在有限空間中將矢量網絡分析整合進測試系統，而無需增加額外成本或使用體積較大的傳統臺式儀器。

NI 研發部高級副總裁Phil Hester表示：“6 GHz 矢量網絡分析儀表明了我們在提供射頻解決方案方面的持續投入，致力于幫助工程師在提高測試精度和吞吐量的同時降低成本、系統體積和復雜性。對于成功地將VNA添加到我們業已強大的PXI模塊化儀器的射頻系列產品中，我們感到很驕傲。”

NI PXIe-5630針對自動化測試應用進行了設計優化，并提供一些成熟的功能，包括：自動精密校準、雙端口均可進行完整矢量分析、參考面延展附件、以及可用于并行測試的靈活的LabVIEW API。NI PXIe-5630還具有優良的性能指標，包括10 MHz到6 GHz的頻率范圍、超過110 dB的動態范圍、以及低于400 微秒/頻點的掃描速度（可連續掃描3201個頻點）。此外，由于基于模塊化的PXI平臺，工程師可將多達八個NI PXIe-5630模塊整合在一個PXI機箱中，并以真實并行的方式進行多點射頻測試。

工程師無需編程便可用附帶的全功能軟面板交互式地控制NI PXIe-5630，或在NI LabVIEW軟件和NI LabWindows™/CVI ANSI C開發環境中使用直觀的API通過編程進行控制。兩種API都針對多核處理進行了優化，以完成多個RF組件的并行測試。相比通過開關切換進行串行測試，這種并行測試方式具有明顯的測試吞吐量優勢。

NI PXIe-5630還進一步擴展了用于自動化測試的PXI模塊化儀器系列產品。基于工業標準的PXI規范，該款矢量網絡分析儀可與包括NI在內的70多家供應商的1500多種PXI儀器集成，滿足幾乎任何測試應用需求。

全新矢量網絡分析儀將于2010年10月上市。

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30多年來，美國國家儀器公司（NI）幫助測試、控制、設計領域的工程師與科學家解決了從設計、原型到發布過程中所遇到的種種挑戰。通過現成可用的軟件，如LabVIEW, 以及高性價比的模塊化硬件，NI幫助各領域的工程師不斷創新，在縮短產品問世時間的同時有效降低開發成本。如今，NI為遍布全球各地的30,000家不同的客戶提供多種應用選擇。NI總部設于美國德克薩斯州的奧斯汀市，在40個國家中設有分支機構，共擁有5,000多名員工。在過去連續十一年里，《財富》雜志評選NI為全美最適合工作的100家公司之一。作為最大的海外分支機構之一，NI中國擁有完善的產品銷售、技術支持、售后服務和強大的研發團隊。