用戶進行器件建模和特性驗證需要在最大的頻率范圍內測量,以獲得最佳模型準確性。 在設計階段,他們必須通過測量不斷重新驗證器件模型,而與鑒定高頻率性能同樣重要的是鑒定 DC 性能。到目前為止,用戶一直受到 500 MHz 以下的微波 VNA性能不佳的影響。信噪比在500 MHz 以下時由于微波耦合跌落而急劇降低。結果造成低端區域器件模型的重大缺陷。此前,唯一的解決方法是在不同的低頻率矢網系統上對器件進行重新測量,因此存在一連串錯誤。現在,隨著具有70 kHz 低端頻率功能的 VectorStar 的出現,用戶可以準確得到最低頻率為 70 kHz 的器件的 DC 信息和頻率高達 110 GHz 內器件的多次諧波的所有性能。
在Anritsu 的 VectorStar 設計基礎上,與以前的系統相比,ME7828A 將動態范圍提高了 30 dB。 得益于Anritsu 的 MG37022A 的快速開關速度,由此可提供 120 毫秒 201點的掃描速度,比最優秀的同類設備還快 4 倍。 ME7828A 將最廣的頻率范圍與單一通道內的 100,000 點結合,提供目前市場上最完整的時域分析能力。
晶圓環境要求測量的穩定性,因為重新校準的過程非常耗時且成本高昂。ME7828A 具有業內最佳的校準和測量穩定性,通常為24 小時內 0.1 dB。
目前有兩種配置可選。標準 ME7828A 具有有源器件測試所需的基本測量功能。 ME7828A-012 可提供額外的超卓性能,包括有源器件測試、時域分析和器件特性驗證。 兩種配置均兼容現有的 SUSS 和 Cascade 探針臺和相應的定位器。
ME7828A 系統可配置全系列的帶寬毫米波模塊,將頻率范圍擴大至高達 500 GHz。 在兩種配置中,毫米波段模塊中的可變衰減器均可使兩個波段的能量相配,實現有源器件正向和反向測量的平穩過渡。
兩種配置中的雙工組合器模塊中均配有凱文偏置器。凱文偏置器具有感應和強制功能,放置在借近被測器件 (DUT) 的位置以實現最佳性能和靈敏度。與采用測試裝置內部偏置源相比,這樣可大幅減少 IR 損耗。 此外,傳感電路持續監測 DUT 的偏置情況,并根據需要為源監測單元 (SMU) 偏置電源設備提供反饋校正值。
Anritsu 的ME7828A 專為微波/毫米波元器件設計人員和制造商而開發,尤其適用于需要寬帶測試的準確器件建模和電路模擬應用。寬帶器件設計用于新興的 60 GHz 無線個人局域網 (WPAN)、速度在 40 Gbps 以上的光網絡、77 GHz 汽車雷達、數字射頻聯接、以及用于天文學、國防和國土安全應用的 94 GHz 成像毫米波雷達。
ME7828A 和 ME7828-012 都是在收到訂單后 12 周交付。