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RFID綜合測試平臺在杭州中心建成投入使用

2011-11-28 來源：微波射頻網字號：大中小

上海微系統所中科院杭州射頻識別技術研發中心建設的RFID綜合測試平臺于2011年11月在杭州正式建成投入使用，該平臺由天線測試系統、RFID標簽\閱讀器測試與射頻系統測試三大部分組成，可滿足RFID硬件開發的各項測試需求。作為目前浙江省唯一的RFID測試平臺，也是華東地區規模最大、功能最齊全的RFID測試平臺，它的建成具有重要意義。

射頻識別技術（RFID）是物聯網的關鍵技術之一，同時具有良好的產業基礎和廣闊的市場前景。研究顯示，2011年全球RFID市場規模可達148億美元，未來五年將繼續保持高速增長，而中國將成為全球最大的RFID市場。由于RFID技術應用的擴展，相關RFID企業必然有擴展產品和技術領域的需求，RFID綜合測試平臺主要解決HF、UHF和RF頻段的RFID產品在研發和應用中的測試技術問題，為相關企業的研發和生產服務，帶動區域RFID產業的提升，有利于提高杭州在全國物聯網行業的標桿作用，引領物聯網相關先進測試技術發展。

RFID綜合測試平臺具有鮮明的特色和優勢：

天線測試平臺引進法國近場球面掃描系統,頻率覆蓋400 MHz-6 GHz。可滿足：天線增益、波束寬度、旁瓣幅度、天線效率以及一維、二維和三維輻射方向圖和任意極化方式的方向圖，同時滿足TRP，TIS，EIRP，EIS等測試指標。

射頻識別（RFID）標簽及閱讀器測試系統主要基于NI-VISN-100 RFID/NFC綜測儀，能夠精確、快速的對標簽和閱讀器進行測試。支持的RFID測試協議：ISO18000-6B和ISO18000-6C/EPC UHF Class1 Gen2。具有標簽與讀卡器一致性測試、標簽與讀卡器性能測試、標簽與讀卡器的互操作性測試的能力。

射頻測試平臺由德國Rohde&Schwarz公司的FSVR7實時頻譜分析儀、SMBV100A矢量信號源和ZVB8矢量網絡分析儀儀器組成，可解決射頻元件與模塊的測試問題，提供完整的射頻參數測試服務。

結合實際需求，杭州中心將積極創新，自主研發，不斷提升RFID及相關測試技術水平，加強企業合作，為推動杭州物聯網產業的發展做出應有貢獻，并積極為我所”十二.五”戰略目標服務，推動寬帶無線傳感網技術發展。