| 資料語言： | 簡體中文 |
| 資料類別： | PDF文檔 |
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| 更新時間： | 2014-08-18 14:33:35 |
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分離式介電諧振器 (SPDR) 提供精確的技術，可在 1 到 20 GHz 頻率范圍內的單一頻率點上測量介電和鐵氧體基片及薄膜復雜的介電常數。除了 SPDR夾具，執行測量還需要使用 PNA 或 PNA-L 等矢量網絡分析儀和軟件包 85071E選件 300。該測量是自動執行，輕松易操作。
測量介電性質的微波方法主要可分為兩類 [1]:
● 傳輸反射法 (例如在同軸線、波導和自由空間中測量，或使用開放式同軸線測量)和
● 諧振法
SPDR 測量技術是諧振法之一。傳輸反射法可以在其運行的頻率范圍內的“任意”點進行掃描測量，而諧振法使用單一頻率 (或，至多針對不同模式使用幾個頻率點)。諧振器和腔體提供最高精度來測量實際介電常數，并可測量其他技術無法測量的損耗極低的材料。應在離散頻率點執行足夠的測量，因為無損材料幾乎是非分散的。這說明它們的介電常數和損耗正切值將在頻率范圍保持不變。SPDR 的結構使用了最新的低損耗介電材料，使其能夠建立具有更高 Q因數且熱穩定性優于傳統全金屬腔體的諧振器 [2,3]。
SPDR 的主要優勢是:
● 較之傳輸反射法具有出色精度
● 能夠測量低損耗材料 (傳輸反射技術無法材料損耗較低的材料)
● 可對基片、印刷電路板和薄膜進行方便、快速的無損測量
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