資料語言: | 簡體中文 |
資料類別: | PDF文檔 |
瀏覽次數: | 0 |
評論等級: | |
更新時間: | 2014-08-13 21:43:45 |
資料查詢: | 您可以通過企業官網、京東、出版社等官方渠道下載或購買。 |
歡迎使用 PNA 系列微波網絡分析儀測量無源和有源器件。PNA 系列是業界最高性能的微波網絡分析儀,PNA-X 系列微波網絡分析儀是全球最先進和靈活的單次連接微波測試引擎。
X 參數*、P2D 和 S2D 模型測試可對有源器件的非線性行為進行表征應用指南 1408-22(12 頁)
摘要:所有有源器件都會隨溫度的變化而顯示出非線性特性。研究和設計高性能、有源射頻器件時,關鍵是對這一特性進行表征,以便在設計過程中對其加以利用和使用。本應用指南介紹三種不同的測量和建模技術,以用于捕獲 PA(更傳統的 S2D 和 P2D 模型及最新的 X 參數模型)中的非線性行為。
閱讀 2011 年 5 月刊《Microwave Journal》雜志中的:Keysight PNA-X NVNA 應用軟件和功率放大器設計的 X 參數功能白皮書(16 頁)
摘要:最近對半導體技術的改進允許研究人員開發高性能微波電路和系統。在非線性區域工作并適當地進行負載端接時,這些器件可構成高效的功率放大器。這類開發需要對射頻晶體管進行精確的非線性表征和建模。這個免費的白皮書介紹工程師如何使用 PNA-X NVNA 和 X 參數開發新一代功率放大器。
腳注:* X 參數是是德科技有限公司的注冊商標。X 參數格式和基礎方程是公開的并存檔。
使用 PNA-X 在脈沖工作狀態時進行有源器件表征應用指南 1408-21(42 頁)
摘要:本應用指南討論使用 PNA-X 系列進行脈沖 S 參數測量,并介紹可對與功率有關的有源器件進行表征的測量技術,包括壓縮和失真。本文概述了脈沖射頻測量類型,及兩種檢測技術(寬帶和窄帶檢測),尤其是使用 PNA-X 架構和方法。
溫馨提示:本站不提供資料文件下載,僅提供文件名稱查詢,如有疑問請聯系我們。