網(wǎng)站首頁 > 資料查詢 > 教程/講義 > 測(cè)試測(cè)量
安立公司LTE多模智能終端的測(cè)試解決方案
| 資料語言： | 簡(jiǎn)體中文 |
| 資料類別： | PDF文檔 |
| 瀏覽次數(shù)： | 0 |
| 評(píng)論等級(jí)： | |
| 更新時(shí)間： | 2013-05-26 23:24:52 |
| 資料查詢： | 您可以通過企業(yè)官網(wǎng)、京東、出版社等官方渠道下載或購買。 |
2013深圳終端無線射頻技術(shù)研討會(huì) - 安立公司 LTE多模智能終端的測(cè)試解決方案 講義下載。
主要內(nèi)容：
安立公司介紹
LTE發(fā)展現(xiàn)況和未來
安立LTE終端測(cè)試方案
射頻研發(fā)測(cè)試
射頻一致性測(cè)試
生產(chǎn)制造測(cè)試
協(xié)議/應(yīng)用測(cè)試
LTE多模終端測(cè)試方案總結(jié)
LTE正在全球范圍內(nèi)快速發(fā)展，LTE終端數(shù)量呈現(xiàn)爆發(fā)式增長(zhǎng)。除了LTE，智能手機(jī)及移動(dòng)終端需同時(shí)支持3G WCDMA、CDMA2000® 1x/1x EVDO、TD-SCDMA技術(shù)，還包括支持3.5G WCDMA/HSPA和TD-SCDMA/HSPA，以及2G GSM/(E)GPRS等。
LTE與2G/3G的多模信令測(cè)試，功能測(cè)試，性能測(cè)試，功耗測(cè)試，以及高速度的校準(zhǔn)和射頻測(cè)試是當(dāng)前終端研發(fā)測(cè)試的熱點(diǎn)和難點(diǎn)。 如何縮短研發(fā)測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試成本，加快終端上市速度，是終端廠家非常關(guān)注的問題。
在本次研討會(huì)上安立將帶來LTE多模智能終端的測(cè)試解決方案，涵蓋了從研發(fā)到生產(chǎn)、從協(xié)議到射頻等各個(gè)階段的支持，并得到了廣泛的應(yīng)用。
研討會(huì)專題報(bào)道網(wǎng)站：http://m.letsgo8.com.cn/html/special/2013szrf/
溫馨提示：本站不提供資料文件下載，僅提供文件名稱查詢，如有疑問請(qǐng)聯(lián)系我們。
粵公網(wǎng)安備 44030902003195號(hào)