• 標準編號：GB/T 21039.1-2007
• 標準名稱：半導體器件 分立器件 第4-1部分：微波二極管和晶體管 微波場效應晶體管空白詳細規(guī)范
• 行業(yè)分類：國家標準(GB)
• 中標分類：半導體二極管(L41)
• ICS分類：31.080.30
• 標準簡介：本部分等同采用IEC 60747-4-1：2000《半導體器件 分立器件 第4-1部分：微波二極管和晶體管 微波場效應晶體管空白詳細規(guī)范》。本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一，具體內容包括：機械說明；簡要說明；質量評定類別；極限值；電特性；標志；訂貨資料；試驗條件和簡要要求等。
• 英文名稱：Semiconductor devices—Discrete devices—Part 4-1:microwave diodes and transistors—Microwave field effect transistors—Blank detail specification
• 發(fā)布部門：中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
• 發(fā)布日期：2007-06-29
• 實施日期：2007-11-01
• 首發(fā)日期：2007-06-29
• 提出單位：信息產業(yè)部
• 歸口單位：全國半導體分立器件標準化分技術委員會
• 主管部門：信息產業(yè)部（電子）
• 起草單位：中國電子技術標準化研究所
• 起草人：羅發(fā)明、劉春勛
• 計劃單號：20030156-T-339
• 頁數：平裝16開 頁數：14, 字數：22千字
• 出版社：中國標準出版社
• 出版日期：2007-11-01 

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