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沉積溫度對含氫非晶碳膜電學性質的影響

2013-03-18 我要評論(0) 字號:
主題資源: 非晶碳薄膜
資料語言: 簡體中文
資料類別: PDF文檔
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更新時間: 2013-03-18 10:23:19
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資料簡介

物理學報  2000, Vol. 49  Issue (10): 2041-2046

程珊華, 寧兆元, 康 健, 馬春蘭, 葉 超
蘇州大學物理系,蘇州 215006
EFFECTS OF DEPOSITION TEMPERATURE ON ELECTRICAL PROPERTIES OF HYDROGENATED AMORP HOUS CARBON FILMS
CHENG SHAN-HUA, NING ZHAO-YUAN, KAN JIAN, MA CHUN-LAN, YE CHAO

摘要: 用苯作為源氣體,使用微波電子回旋共振(ECR)等離子體氣相沉積法在不同溫度下制備了含 氫非晶碳薄膜,研究了沉積溫度對薄膜的直流電阻率、擊穿場強的影響,發現它們與沉積速 率密切相關.測量了薄膜的含氫量與Raman譜,利用Angus等人提出的隨機共價網絡模型對結果 作了分析.

引用本文:   
程珊華,寧兆元,康 健 等 . 沉積溫度對含氫非晶碳膜電學性質的影響. 物理學報, 2000, 49(10): 2046. 
Cite this article:   
CHENG SHAN-HUA,NING ZHAO-YUAN,KAN JIAN et al. EFFECTS OF DEPOSITION TEMPERATURE ON ELECTRICAL PROPERTIES OF HYDROGENATED AMORP HOUS CARBON FILMS. Acta Phys. Sin., 2000, 49(10): 2041-2046. 

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